The Bobcat-320 is a small, high performance shortwave infrared camera.
应用
半导体和太阳能电池行业
什么是半导体和太阳能电池行业？
半导体水晶网格缺陷会引起低级光子辐射。 而该低级光子 辐射 则正好发生在配备热电制冷型InGaAs or HgCdTe区域传感器的SWIR摄像机最灵敏的范围。
因此，这些传感器完全适用于半导体生产制造中的故障分析和质量保证工作。 这些程序的正面结果均经过成功改造，以提高纳米技术设备的经济性。
SWIR成像仪如何应用于 半导体&太阳能电池行业？
SWIR成像最初应用于 通信行业，因为其对通常在光纤中使用的1550 nm光很敏感。 现在，SWIR成像广泛用于半导体和太阳能电池行业中的各种应用：
- 辐射显微学： 光子辐射显微学，或电致发光成像是一个相对较新的故障分析技术，其用于探测主要由于载体重组机制而从缺陷区域产生的光子辐射。
- 故障分析： 在微电子学中采用的定向故障分析通常按五个步骤进行： 首先进行故障确认，然后进行缺陷定位。 然后对缺陷区域进行准备和追踪，以进行分析； 随即确定缺陷性质，并且最终启动根本原因调查。
- 太阳能电池检验： SWIR成像可允许您“透视”硅晶片，从而对太阳能电池的缺陷和故障进行检查，而该缺陷和故障无法通过其他方法进行探测和可视化。
我们的产品/服务
我们可提供Bobcat系列产品，以用于这些应用。 我们的Bobcat-640-GigE & Bobcat-640CL都是非常小型化且轻量化的SWIR InGaAs摄像机。 其耗电量 非常低，并且比其他 制冷SWIR摄像机更便宜。 因此，客户们持续将其用于各种成本、尺寸和功率具有决定性影响的新型系统集成应用中。 Bobcat系列配备了GigE或CameraLink接口，可满足数据和控制接口方面的灵活性要求。
需要什么样的功能？
- 连接便利性我们可提供多种接口，以便于集成到您的系统中
- 高帧速率高帧速率可允许我们捕捉快速运动的物体
- 高图像分辨率像素数量对图像质量有着巨大影响。 分辨率越高，您的图像细节就越多
- 低噪音水平和高动态范围低噪音水平可确保高灵敏性，而高动态范围可确保高图像对比度
- 传感器温度稳定或制冷制冷型SWIR摄像机具有较低的暗电流，可达到较低的噪音水平，并具有较高的动态范围。 我们的产品系列中有多个SWIR摄像机为TE1-稳定，TE1-制冷，TE3-制冷或TE4-制冷或者甚至LN2制冷
- 较小的像素尺寸较小的像素尺寸可造就更紧凑的探测器——从而获得更低的传感器生产成本、更小的光学部件并最终得到更小的摄像机
相关产品
-
-
超紧凑型Bobcat-640-CL系列 可满足 在SWIR范围需要高灵敏度机器视觉系统设计人员的要求， 以用于专门的质量检测 和高温过程控制。
-
Bobcat-640-GigE系列具有 卓越的图像质量， 可作为整套数码红外摄像机系统提供， 并配备内置的图像处理功能。
-
Cheetah-640-CL系列摄像机 是世界上最快的InGaAs红外摄像机。 这款摄像机配备专用的 高速InGaAs探测器阵列，可在 1.7 μm的范围工作，并且可提供三种速度版本： 400、800 和 1,700 Hz。
-
使用Lynx-512-GigE系列进行机器视觉检测， 可在过程稳定性和 质量保证测量工作中， 为您提供宝贵信息。 这款 SWIR摄像机可完美匹配 各种塑料的吸收光谱， 对热成像测量中的 辐射率变化灵敏度较低，并可发现 不可见的内部缺陷。
-
使用Lynx-512-CL系列进行机器视觉检测， 可在过程稳定性和 质量保证测量方面， 为您提供宝贵信息。 这款 SWIR摄像机可完美匹配 各种塑料的吸收光谱， 对热成像测量中的 辐射率变化灵敏度较低，并可发现 不可见的内部缺陷。
-
使用 Lynx-1024-GigE系列进行机器视觉检测， 可在质量保证测量方面 为您提供高分辨率信息。 这款 SWIR摄像机可完美匹配 低级光子辐射吸收光谱， 对热成像测量中的 辐射率变化灵敏度较低，并可提供更深的下表面 穿透深度图像。
-
使用 Lynx-1024-CL系列进行机器视觉检测， 可在质量保证测量工作中 为您提供高分辨率信息。 这款 SWIR摄像机可完美匹配 低级光子辐射吸收光谱， 对热成像测量中的 辐射率变化灵敏度较低，并可提供更深的下表面 穿透深度图像。
-
Lynx-2048-GigE系列 所提供的独一无二超高线分辨率 将最大化您的生产产出。 这个 SWIR解决方案完美适用于 半导体材料更深层的 光谱学、无损 以及富细节成像，或 对其功能层厚度和均匀性 的测量。
-
Lynx-2048-CL系列 所提供的独一无二超高线分辨率 将最大化您的生产产出。 这个 SWIR解决方案完美适用于 半导体材料更深层的 光谱学、无损 以及富细节成像，或 对其功能层厚度和均匀性的测量。
文件
| SWIR cameras for timely defect detection ensure higher yields in solar cell production. | SWIR cameras for timely defect detection ensure higher yields. |
| XCO-640 enable thermal lock-in inspection applications | This article demonstrates the value and effectiveness of using thermal lock-in when conducting semiconductor inspections. The overall efficiency of a wafer level inspection process is improved thanks to thermal lock-in enabled by the Xenics XCO-640 camera module. |
| Xenics at Vision 2012: Cougar-640 SWIR camera is LN2-cooled for lowest noise and dark current | We demonstrate the Cougar-640 LN2-cooled SWIR camera at Vision 2012. This camera is perfectly suited for extreme low-light-level applications (2012) |
| Bobcat-640: smallest GigE Vision/CameraLink SWIR camera with low noise | We demonstrate our Bobcat-640-GigE/CL at Vision 2012. The Bobcat-640 is the smallest GigE Vision/CameraLink SWIR camera with low noise (2012) |
| Bobcat-640: smallest SWIR low noise CL/GigE camera now in production | We released our Bobcat-640-GigE and Bobcat-640-CL SWIR cameras to full-qualification production (2014) |
| Short-wave infrared cameras in semiconductor inspection applications | The semiconductor industry has grown to become one of the largest industries in the world. Semiconductor industry covers a wide variety of applications, ranging from processor and memory integrated circuits for PCs or mobile devices, to solar cells. We look at several uses of SWIR (short-wave infrared) cameras in semiconductor inspection applications. |
所有这一切新
没有可用的事件。
World's first InGaAs camera photon emission microscope
Xenics enabled Semicaps to realize the world's first InGaAs camera photon emission microscope in 2004. Since then Xenics and sInfraRed have supported us in our endeavors for better sensitivity and resolution in photon and thermal emission microscopy.
Chua Choon Meng, CEO Semicaps